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靜電放電試驗模擬及造成后果
日期：2025-04-28 14:44
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摘要：
靜電放電試驗模擬及造成后果
GB/T17626.2描述的是在低濕度環(huán)境下，通過摩擦使人體帶電。帶了電的人體，在與設(shè)備接觸過程中就可能對設(shè)備放電。靜電放電抗擾度試驗模擬了兩種情況：
⑴設(shè)備操作人員直接觸摸設(shè)備時對設(shè)備的放電，和放電對設(shè)備工作的影響；
⑵設(shè)備操作人員在觸摸鄰近設(shè)備時，對所關(guān)心這臺設(shè)備的影響。其中前一種情況稱為直接放電（直接對設(shè)備放電）；后一種情況稱為間接放電（通過對鄰近物體的放電，間接構(gòu)成對設(shè)備工作的影響）。
靜電放電可能造成的后果是：
⑴通過直接放電，引起設(shè)備中半導體器件的損壞，從而造成設(shè)備的長久性失效。
⑵由放電（可能是直接放電，也可能是間接放電）而引起的近場電磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細資料，可點擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
GB/T17626.2描述的是在低濕度環(huán)境下，通過摩擦使人體帶電。帶了電的人體，在與設(shè)備接觸過程中就可能對設(shè)備放電。靜電放電抗擾度試驗模擬了兩種情況：
⑴設(shè)備操作人員直接觸摸設(shè)備時對設(shè)備的放電，和放電對設(shè)備工作的影響；
⑵設(shè)備操作人員在觸摸鄰近設(shè)備時，對所關(guān)心這臺設(shè)備的影響。其中前一種情況稱為直接放電（直接對設(shè)備放電）；后一種情況稱為間接放電（通過對鄰近物體的放電，間接構(gòu)成對設(shè)備工作的影響）。
靜電放電可能造成的后果是：
⑴通過直接放電，引起設(shè)備中半導體器件的損壞，從而造成設(shè)備的長久性失效。
⑵由放電（可能是直接放電，也可能是間接放電）而引起的近場電磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細資料，可點擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
