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用幾個實際案例帶你分析如何解電磁兼容ESD問題?

日期:2025-04-24 20:00
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摘要: 根據(jù)反復重啟的時間判斷,類似于長按Power鍵。檢查Power_On信號,發(fā)現(xiàn)已經(jīng)被持續(xù)拉低,Power_On信號的原理圖如下: 為了降成本,位置1并沒有貼TVS管,而是用一個電容代替,電容的耐壓值是25V。失效的機器,這個電容已經(jīng)短路,可以判斷ESD進入殼體,直接打壞了位置1的電容。 如果把位置1的電容耐壓提高到50V,能抗的ESD搶數(shù)量會增多,但*終還是會壞。這個項目不是防水的,密封性做的很差,所以才有問題。 【解決方法】 把位置1的電容換成TVS管,或者位置1不...

根據(jù)反復重啟的時間判斷,類似于長按Power鍵。檢查Power_On信號,發(fā)現(xiàn)已經(jīng)被持續(xù)拉低,Power_On信號的原理圖如下:


為了降成本,位置1并沒有貼TVS管,而是用一個電容代替,電容的耐壓值是25V。失效的機器,這個電容已經(jīng)短路,可以判斷ESD進入殼體,直接打壞了位置1的電容。


如果把位置1的電容耐壓提高到50V,能抗的ESD搶數(shù)量會增多,但*終還是會壞。這個項目不是防水的,密封性做的很差,所以才有問題。


【解決方法】

把位置1的電容換成TVS管,或者位置1不要貼任何東西,在位置2放一個1nF的電容???K電阻+1nF電容來吸收ESD能量。


另外,在側(cè)鍵的FPC附近,增加了GND露銅區(qū)域,引導ESD先進入GND。這也是一種低成本的解決方法,如果ESD能量足夠大,實測幾乎可以把1K電阻打壞。



某智能手表在USB接口外殼打ESD造成黑屏死機問題


充電口是Micro-B型USB接口,接觸放電±10KV,會出現(xiàn)黑屏,死機,閃屏等現(xiàn)象。

抓死機Log,沒有發(fā)現(xiàn)什么端倪。

將USB信號逐個引出,VBUS,D+,D-都沒有出現(xiàn)問題,打ID管腳,會出現(xiàn)類似現(xiàn)象。打GND,會很低概率出現(xiàn)類似現(xiàn)象。遂將問題定位到ID管腳,和GND上。

仔細檢查USB接口附件的Layout,問題如下:


1、USB_ID管腳是懸空的。


2、在L3和L6層,靠近USB接口,有與屏相關(guān)的敏感信號。


懸空的ID管腳是知名威脅,靜電積累到一定程度,肯定會對周圍放電,二次放電的威力更大。


USB周圍的有敏感信號,在打ESD時,附近的GND電平瞬間局部抬高,尤其是看到USB接口的屏蔽殼跟表層相連,周圍沒有非常多的過孔打到內(nèi)層GND,這更加重了GND局部電平的提高,這會干擾到這些敏感信號,導致死機,黑屏,閃屏問題。

【解決方法】

USB的固定PIN以及GND PIN,只接主GND,不要每一層都接GND。MIPI,LCD_TE,LCD_RST遠離USB接口。


某智能手表屏幕朝下,打后殼會黑屏


這是一個SPI接口的顯示屏,問題比較簡單,一個偶然的機會發(fā)現(xiàn)是SPI信號中,CS線被軟件強制拉低,且一直處于低的狀態(tài),這樣是不行的。


實測將CS線的行為改成符合SPI協(xié)議,只在傳輸數(shù)據(jù)時拉低,這個黑屏的問題解決了。


某智能手表在USB的GND PIN上注入接觸-8KV靜電,會概率關(guān)機


首先抓取了Log分析,沒有發(fā)現(xiàn)什么線索。


直接拆開整機,在主板的不同地方的GND,注入ESD,統(tǒng)計關(guān)機的次數(shù),得出一個簡單的規(guī)律,只有在靠近電池BTB的地方,才會大概率出現(xiàn),初步判斷是ESD干擾了電池周圍的信號。


電池BTB周圍的信號有D+,D-,VBUS,MIPI,BAT_ID,BAT_THERM等,逐個在這些信號上,注入小兩級的ESD,比如±2KV,有些信號會導致PMU損壞,有些會導致死機。只有BAT_ID信號會出現(xiàn)關(guān)機的現(xiàn)象。




關(guān)機有兩種可能,一是內(nèi)部軟件流程關(guān)機,二是電池突然掉電。尤其是**種,往往很容易忽略。因為某些情況下,ESD注入兩槍,立即就出現(xiàn)了關(guān)機現(xiàn)象,這很像是電池掉電了。


電池掉電有兩種可能,一是電池保護板保護機制生效,切斷了供電。二是Vbat到PMU的通路被打斷。排查了主板上的器件,Vbat的通路經(jīng)過的都是一些模擬器件,可能性比較小。


我們直接從主板VBAT飛線,連接到程控電源上,再打ESD的時候,發(fā)現(xiàn)就不會關(guān)機了。這進一步說明,在注入ESD時,是電池本身沒有輸出了。



電池保護板的原理圖如下:

在圖中GND上注入+8KV,沒有問題,因為右邊的TVS吸收了大部分能量,由于正向?qū)ǎQ位電壓較低(小于4.4V),電池保護板沒有觸發(fā)保護機制。但是如果注入-8KV,TVS管開始反向鉗位,瞬間的鉗位電壓較高(大于4.4V),超過電池起保護電壓,電池觸發(fā)保護機制,MOS管U2斷開,導致關(guān)機。下圖是TVS管的鉗位特性,也能佐證這個結(jié)論。


注意電池保護板的保護IC,是判斷C1兩端的電壓,來決定是否起保護的。所以要解決這個問題,需要增大C1的容值。實測將C1增大到1uF,關(guān)機的概率明顯降低了。


降低了,但沒有徹底解決問題,肯定還有其他原因。這個原因是先猜出來,然后試驗驗證的。


上文提到只有BAT_ID信號會出現(xiàn)關(guān)機的現(xiàn)象。所以猜測靜電耦合到了ID管腳,進入PMU導致關(guān)機。


下面是這次電池保護板的走線,ID的走線與GND有較長的耦合長度,GND上的瞬間能量能很快耦合到這根線上,*終直接進入到PMU。




雖然主板上ID走線也跟GND有很長的耦合距離,但是主板上的GND與Vbat之間有TVS鉗位,GND的電壓不至于跳變太厲害,也不會耦合很多能量到ID線上。反而是電池FPC上的GND電平跳動*大,ID先在FPC上耦合的能量更多。


FPC改版成如下樣式,ID和GND基本沒有重疊區(qū)域,能量也不會耦合到ID管腳上,再也沒有出現(xiàn)過關(guān)機問題。



經(jīng)檢查,確定是TP IC被打壞。沒有仔細分析IC損壞的原因,因為發(fā)現(xiàn)TP FPC背后的雙面到點膠太弱,根本沒有粘到GND上。TP沒有很好的接地,導致了這個問題。


只要TP接地良好,就肯定該不會出現(xiàn)TO IC失效問題。



電磁兼容整改小技巧:


1)差模干擾與共模干擾

1.1差模干擾:存在于L-N線之間,電流從L進入,流過整流二極管正極,再流經(jīng)負載,通過熱地,到整流二極管,再回到N,在這條通路上,有高速開關(guān)的大功率器件,有反向恢復時間極短的二極管,這些器件產(chǎn)生的高頻干擾,都會從整條回路流過,從而被接收機檢測到,導致傳導超標。

1.2共模干擾:共模干擾是因為大地與設(shè)備電纜之間存在寄生電容,高頻干擾噪聲會通過該寄生電容,在大地與電纜之間產(chǎn)生共模電流,從而導致共模干擾。

下圖為差模干擾引起的傳導FALL數(shù)據(jù),該測試數(shù)據(jù)前端超標,為差模干擾引起:



下圖為開關(guān)電源EMI原理部分:


圖中CX2001為安規(guī)薄膜電容(當電容被擊穿或損壞時,表現(xiàn)為開路)其跨在L線與N線之間,當L-N之間的電流,流經(jīng)負載時,會將高頻雜波帶到回路當中。此時X電容的作用就是在負載與X電容之間形成一條回路,使的高頻分流,在該回路中消耗掉,而不會進入市電,即通過電容的短路交流電讓干擾有回路不串到外部。


對差模干擾的整改對策:

1. 增大X電容容值

2. 增大共模電感感量,利用其漏感,抑制差模噪聲(因為共模電感幾種繞線方式,雙線并繞或雙線分開繞制,不管哪種繞法,由于繞制不緊密,線長等的差異,肯定會出現(xiàn)漏磁現(xiàn)象,即一邊線圈產(chǎn)生的磁力線不能完全通過另一線圈,這使得L-N線之間有感應電動勢,相當于在L-N之間串聯(lián)了一個電感)

下圖為共模干擾測試FALL數(shù)據(jù):



電源線纜與大地之間的寄生電容,使得共模干擾有了回路,干擾噪聲通過該電容,流向大地,在LISN-線纜-寄生電容-地之間形成共模干擾電流,從而被接收機檢測到,導致傳導超標(這也可以解釋為什么有的主板傳導測試時,不接地通過,一夾地線就超標。USB模式下不接地時,電流回路只能通過L-二極管-負載-熱地-二極管-N,共模電流不能回到LISN,LISN檢測到的噪聲較小,而當主板的冷地與大地直接相連時,線纜與大地之間有了回路,此時若共模噪聲未被前端LC濾波電路吸收的話,就會導致傳導超標)


對共模干擾的整改對策:

1. 加大共模電感感量

2. 調(diào)整L-GND,N-GND上的LC濾波器,濾掉共模噪聲

3. 主板盡可能接地,減小對地阻抗,從而減小線纜與大地的寄生電容。


2)產(chǎn)品電磁兼容騷擾源有:

1、設(shè)備開關(guān)電源的開關(guān)回路:騷擾源主頻幾十kHz到百余kHz,高次諧波可延伸到數(shù)十MHz。

 2、設(shè)備直流電源的整流回路:工頻線性電源工頻整流噪聲頻率上限可延伸到數(shù)百kHz;開關(guān)電源高頻整流噪聲頻率上限可延伸到數(shù)十MHz。

 3、電動設(shè)備直流電機的電刷噪聲:噪聲頻率上限可延伸到數(shù)百MHz。

 4、電動設(shè)備交流電機的運行噪聲:高次諧波可延伸到數(shù)十MHz。

 5、變頻調(diào)速電路的騷擾****:開關(guān)調(diào)速回路騷擾源頻率從幾十kHz到幾十MHz。

 6、設(shè)備運行狀態(tài)切換的開關(guān)噪聲:由機械或電子開關(guān)動作產(chǎn)生的噪聲頻率上限可延伸到數(shù)百MHz。

7、智能控制設(shè)備的晶振及數(shù)字電路電磁騷擾:騷擾源主頻幾十kHz到幾十MHz,高次諧波可延伸到數(shù)百MHz。

8、微波設(shè)備的微波泄漏:騷擾源主頻數(shù)GHz。

 9、電磁感應加熱設(shè)備的電磁騷擾****:騷擾源主頻幾十kHz,高次諧波可延伸到數(shù)十MHz。

 10電視電聲接收設(shè)備的高頻調(diào)諧回路的本振及其諧波:騷擾源主頻數(shù)十MHz到數(shù)百MHz,高次諧波可延伸到數(shù)GHz。

11、信息技術(shù)設(shè)備及各類自動控制設(shè)備的數(shù)字處理電路:騷擾源主頻數(shù)十MHz到數(shù)百MHz(經(jīng)內(nèi)部倍頻主頻可達數(shù)GHz),高次諧波可延伸到十幾GHz。


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